研究進(jìn)展

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    2026年學(xué)術(shù)進(jìn)展系列之1:我院藍(lán)色能源團(tuán)隊(duì)在高性能直流摩擦納米發(fā)電機(jī)研究中取得新進(jìn)展

    日期: 2026-01-15 瀏覽次數(shù):

    物聯(lián)網(wǎng)(IoT)的快速發(fā)展推動(dòng)了分布式傳感節(jié)點(diǎn)的廣泛部署,但在許多應(yīng)用場(chǎng)景中仍缺乏穩(wěn)定電網(wǎng)支撐,傳統(tǒng)電池供能在更換頻率、維護(hù)成本和環(huán)境壓力等方面難以滿足長(zhǎng)期運(yùn)行需求。在此背景下,適用于低頻、小幅和隨機(jī)機(jī)械激勵(lì)的摩擦納米發(fā)電機(jī)(TENG)逐漸受到關(guān)注。其中,基于空氣擊穿機(jī)制的直流型摩擦納米發(fā)電機(jī)(DC-TENG)可在短行程內(nèi)輸出微庫(kù)侖級(jí)電荷并提供持續(xù)直流信號(hào),被認(rèn)為是提升輸出性能的有效途徑。然而,DC-TENG的性能提升受限于結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)瓶頸,電極未覆蓋區(qū)域產(chǎn)生的有害放電導(dǎo)致摩擦電荷被內(nèi)部中和,電荷生成與釋放效率失配。同時(shí),傳統(tǒng)基于表面電荷密度的評(píng)價(jià)方式忽略器件幾何尺度效應(yīng),難以公平比較不同DC-TENG結(jié)構(gòu)。因此,在有限空間內(nèi)實(shí)現(xiàn)高效電荷釋放并建立合理的性能評(píng)價(jià)體系尤為關(guān)鍵。

    針對(duì)上述挑戰(zhàn),受《伊索寓言》中烏鴉喝水故事啟發(fā),研究團(tuán)隊(duì)提出了一種基于電暈放電機(jī)制的高性能直流摩擦納米發(fā)電機(jī)(AF-TENG),通過(guò)極致空間壓縮策略實(shí)現(xiàn)順暢的摩擦電荷釋放。該器件在滑塊內(nèi)部集成高密度、雙通道螺旋式電荷收集電極陣列,將原本集中于電極未覆蓋區(qū)域的摩擦電荷劃分為多個(gè)微尺度單元,實(shí)現(xiàn)快速、連續(xù)釋放,使輸出電荷量提升了237%。該結(jié)構(gòu)借助投影微立體光刻(PμSL)技術(shù)實(shí)現(xiàn)高精度集成,并通過(guò)微溝槽引導(dǎo)不銹鋼細(xì)絲有序排布,形成緊湊穩(wěn)定的電荷收集結(jié)構(gòu),從而有效抑制有害放電與局部電荷堆積,提升了輸出穩(wěn)定性與一致性。在此基礎(chǔ)上,研究首次提出輸出摩擦電荷體密度Volumetric Triboelectric Charge, C m?3)這一性能評(píng)價(jià)指標(biāo),將滑塊長(zhǎng)度、寬度和滑動(dòng)距離統(tǒng)一納入評(píng)價(jià)體系,從空間體積角度表征摩擦電荷的產(chǎn)生與傳輸效率實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明,該指標(biāo)可有效消除器件幾何尺寸對(duì)性能評(píng)價(jià)的影響,更公平地比較不同直流型TENG結(jié)構(gòu)的內(nèi)在性能。經(jīng)理論與實(shí)驗(yàn)驗(yàn)證,AF-TENG在多項(xiàng)關(guān)鍵性能指標(biāo)上實(shí)現(xiàn)突破,其表面電荷密度達(dá)14.2mC m?2輸出摩擦電荷體密度高達(dá) 224nC cm?3雙雙刷新了直流型摩擦納米發(fā)電機(jī)的最高紀(jì)錄。即使在僅1.46 cm2指甲蓋大小的滑塊下,該器件仍可穩(wěn)定為溫濕度計(jì)、計(jì)算器等低功耗電子器件供能。所提出的空間壓縮策略具有可推廣性,為直流型TENG的性能提升與統(tǒng)一評(píng)價(jià)提供依據(jù),該研究在微能量收集、自供電傳感系統(tǒng)和物聯(lián)網(wǎng)電源解決方案中展現(xiàn)出應(yīng)用潛力。

    該成果以" Extreme Squeezing of Volumetric Triboelectric Charge to a New Record of 224 nC cm-3 Inspired by Aesop's Fables"為題,發(fā)表于國(guó)際知名期刊《Advanced Materials》(IF=26.8),廣西大學(xué)物理科學(xué)與工程技術(shù)學(xué)院為唯一通訊單位。

    論文作者:李玲(碩)、唐衛(wèi)(博)、李嘉偉(博)、吳再邦(碩)、溫永盛(碩)、周煒鈺(碩)

    通訊作者:陸翔(正高級(jí)實(shí)驗(yàn)師)、劉官林(副教授)

    論文鏈接:https://doi.org/10.1002/adma.202515482

     

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